方案摘要
方案下载应用领域 | 钢铁/金属 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | 含量分析>其他 |
参考标准 | GB223.5-2008,GB 5687.2-2007 |
本文介绍了一种使用 ICP-OES 测定金属样品基体中,氢氟酸介质下硅元素的方法,采用了安捷伦无硅涂层的耐氢氟酸进样系统,克服了常规 ICP-OES 分析氢氟酸介质空白值高的缺点,获得了较低的空白值,适合于测定多种金属基体中不同含量范围的硅元素。
本文介绍了一种使用 ICP-OES 测定金属样品基体中,氢氟酸介质下硅元素的方法,采用了安捷伦无硅涂层的耐氢氟酸进样系统,克服了常规 ICP-OES 分析氢氟酸介质空白值高的缺点,获得了较低的空白值,适合于测定多种金属基体中不同含量范围的硅元素。
用于原辅料鉴定的 Agilent Cary 630 FTIR 光谱仪
分析洗手液中的醇类浓度
使用 Agilent Cary 630 ATR-FTIR 光谱仪测定婴儿米粉中的蔗糖浓度
相关产品
CrossLab企业资产管理服务
Agilent GC 8890 气相色谱系统
Agilent Cary 3500 紫外可见分光光度计
Agilent Resolve 手持拉曼系统
Agilent TRS100 激光拉曼系统
Agilent 1290 Infinity II 二维液相色谱解决方案
Agilent 1290 Infinity II 液相色谱系统
Agilent 1260 Infinity II 液相色谱系统
Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪
Agilent Bravo 自动液体处理平台
Agilent 7010C 三重四极杆气质联用系统
Agilent 7000E 三重四极杆气质联用系统
Agilent 5977C GC/MSD 单四极杆气质联用仪
Agilent 1290 Infinity II 高通量系统
Agilent 1290 Infinity II 方法转移系统
关注
拨打电话
留言咨询