型号: | SIG 系列 |
产地: | 美国 |
品牌: | |
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SIG 系列分布式光度计,可以直接得到LED 等光源的近场光线数据Ray DATA,从而通过权重法超高精度模拟不同距离下的远场数据,测试数据可以直接导入Zemax、LightTool、TracePro 等光学设计软件;可以了解你芯片的发光特点,改进封装设计工艺,提高出光效率;对于LED 应用,无需再为LED 光学模型重建而苦恼;让你轻松实现业界领先的光学设计;
SIG400光源近场分布测试系统 |
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