光致发光影像系统针对晶体硅太阳电池测试的解决方案

2012/02/22   下载量： 18 次

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卓立汉光Helios 光致发光影像测试系统可以快速测量晶体硅的绝对少子寿命，并同时得到表征材料缺陷分布的二维影像。在太阳电池片生产流程中，这些信息可以用于进料在线筛选和制程工艺监控，从而使每一个制程都最优化。通过测量校正过的光致发光影像，可以定量测量太阳电池原材料的缺陷分布和杂质含量水平。

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文献贡献者

北京卓立汉光仪器有限公司
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