型号: | JEM-ARM200F(C)-NEO ARM |
产地: | 日本 |
品牌: | 日本电子 |
评分: |
|
应用领域: |
共2个
查看经典案例
|
日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。
传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。
从2009年开始,中国先后购买了JEM-ARM200F进二十台,针对不同研究领域选用了不同配置。2017年6月日本电子株式会社推出了最新款的NEO ARM,采用自动球差校正软件、且低压下的分辨能力超强,适用范围进一步扩大,为材料科学研究提供了一个更全面分分析平台。
用户单位 | 采购时间 |
三星(西安) | 2013/11/01 |
北京化工大学 | 2014/06/09 |
中国石化石油化工科学研究院 | 2013/03/20 |
上海交通大学 | 2011/12/01 |
中国科学院物理研究所 | 2011/07/31 |
相关产品
日本电子 JEOL 冷场发射冷冻电子显微镜 CRYO ARM™ JEM-Z200CA
日本电子 JEOL 电子探针JXA-iHP200F
日本电子 JEOL 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-IT510
日本电子 JEOL 触摸屏控制热场发射扫描电子镜 JSM-IT710HR
日本电子 JSM-IT810场发射扫描电子显微镜
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2
日本电子 JEOL 新一代冷冻透射电镜CRYOARM 300II (JEM-3300)
日本电子 JEOL 氩离子截面抛光仪 IB-19530CP
日本电子 JEOL 自动进样场发射透射电镜JEM-F200
日本电子 JEOL 高通量场发射透射电子显微镜 JEM-ACE200F
日本电子 JEOL 软X射线分光谱仪 SXES
日本电子 JEOL 能量色散X射线荧光光谱仪 JSX-1000S
液相色谱 -飞行时间质谱仪
超四极杆质谱仪
日本电子 JEOL 超高分辨热场发射扫描电镜 JSM-IT800
关注
拨打电话
留言咨询