核心参数

仪器种类：比表面及孔径分析仪
产地类别：国产
仪器原理：静态法（静态体积法）
分析站数目： 4个
测试范围：比表面积：>0.0005 m 2 /g
压力范围： 10^ -5 - 0.998
测试理论：静态容量法

创新点

Vctrl防抽飞控制技术采用独有的Vctrl防抽飞控制技术，软硬件结合控制防止样品被抽飞的同时，保证测试效率，避免测试过程中因样品抽飞导致的仪器气路污染，保护仪器运行安全。 Vspace冷自由空间控制技术采用独有的Vspace技术确保测试过程中整个系统的冷自由空间不发生变化，保证分析结果的准确性、重复性和稳定性。 Vstable稳定测试技术采用独有的Vstable控制技术保证测试的稳定性和准确性，使白炭黑、氧化铝等大孔材料的分析准确性更高、重复性和稳定性更好，真正实现50nm以上材料的孔径分析。保护仪器运行安全。 Vlevel液氮面控制技术自主研发的大容量玻璃杜瓦瓶，与普通玻璃杜瓦瓶吹气工艺不同，采用自主研发工艺制成，由特殊材料制备，克服了吹气导致薄厚不均匀产生应力的缺陷，不易碎，使用安全，且能长时间保证较高真空度，使用寿命长。

产品详情

简介

TB系列比表面积及孔径分析仪是北京精微高博科学技术有限公司推出的新一代表征微纳米粉体材料表面特性和孔结构的仪器。采用静态容量法气体吸附技术，支持多样品同时测试，确保结果的准确性与一致性。提供全面的数据分析功能，涵盖多种物理吸附模型和性能参数计算。

概述

TB系列比表面积及孔径分析仪，是北京精微高博科学技术有限公司最新推出的表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。该仪器采用最常用、最可靠的静态容量法气体吸附法分析材料的吸附行为。测试过程中多个样品共用同一杜瓦瓶同一气源进行测试分析，保证分析测试的准确性和重复性，真正实现多站间无差异化分析。

数据分析

完整的物理吸附计算模型供灵活选择，包括：

-等温吸脱附曲线；
-BET比表面积（单点、多点）；
-Langmuir表面积；
-外表面积（STSA）；
-BJH孔径分析；
-t-plot分析；

-DR、DA、MP方法；
-HK孔径分析；
-SF孔径分析；
-NLDFT孔径分布；
-最可几孔径、平均孔径、总孔体积；
-吸附曲线、吸附热计算，等等

性能参数

JW-TB400高通量比表面积及孔径分析仪（最多12站）信息由北京精微高博仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于JW-TB400高通量比表面积及孔径分析仪（最多12站）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应JW-TB400高通量比表面积及孔径分析仪（最多12站）外，北京精微高博仪器有限公司还可为您提供JW-ZQ200C 蒸汽吸附仪、DX磷酸铁锂专用比表面仪（1小时28个样品）等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。

售后服务

产品货期： 30天
培训服务：安装调试现场免费培训

型号：	JW-TB400高通量比表面积及孔径分析仪
产地：	北京
品牌：	精微高博
评分：
应用领域：	共3个查看经典案例
荣誉奖项：