方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | |
参考标准 | 温度范围-75+225 |
在电源管理芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST ThermoStream ATS 系列高低温冲击测试机有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温15°C, 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度;
在电源管理芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST ThermoStream ATS 系列高低温冲击测试机有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温15°C, 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度; inTEST 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件; 可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等工程机联用.
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