徕卡光学平台LAS X ID Modules_价格_徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

产品详情

德国徕卡LAS X ID Modules分析软件

您的成功取决于是否能通过高质量产品获得客户满意度。零部件的清洁度决定产品的性能、使用寿命和整体质量。

ISO、VDA 和 SAE 等汽车和其他行业的国际和地区标准日益严格，必须进行严格的清洁度分析才能确保合规性。

清洁度专家软件是一种使用简单的高质量解决方案，可根据您的应用需求提供可靠、可重复的分析结果。

因为清洁度很重要

通过多样品测量改善工作流程

满足国际、国家标准以及个性化要求

通过激光光谱获得用于识别污染源的更多信息

管理多个样品

同时分析多个样品，提高工作流程效率，借助自动化颗粒分析简化您的过程。例如，将来自一个过滤过程的多个过滤样品组合到一个单一批次进行分析，并为每个过滤器分配不同的颗粒分类设置。轻松生成报告，共享您的结果。

现在，您可以

在每个批次中一次分析多个过滤器，节省时间

设置不同的颗粒分类参数，例如每种过滤器的长度和宽度限值

以圆形或矩形扫描图形进行测量

使用显微镜进行除技术清洁度分析以外的其他任务

符合甚至超越标准

检查是产品安全的重要步骤，对于产品的可靠性和标准合规性非常关键。为了获得必要的证明书，记录零部件的清洁度至关重要。

清洁度专家软件有助于

按照各种国际和国家标准对您的技术清洁度进行分类

兼顾个性化要求

通过存储和调用功能获得可靠、可重复的结果

通过测量颗粒高度，而不仅仅是长度和宽度，全面测定颗粒造成损害的可能性

根据外部或内部标准快速生成报告

识别污染源

何必费心搜寻 – 分析全搞定！

假如您可以将目视检查和化学检查组合在一个工作流程解决方案中，将会为污染源识别带来莫大的帮助。清洁度专家软件与独特的全新激光诱导击穿光谱 (LIBS) 系统相结合，为您带来灵活的二合一分析解决方案。轻松快速地掌握污染的更多信息，为您的业务带来决策优势。

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LIBS 的灵活性

无需将颗粒传输到电子显微镜 (SEM) 或其他设备，即可获得颗粒的化学指纹图谱

消除额外的样品制备和系统调节

在内部进行化学分析，节省时间和资金

根据光学信息和化学信息作出明智决策

获得完整的图像

清晰透明的成像结果不可或缺，因为它有助于您识别不需要的污染颗粒。有了更多的信息，您就可以更好地做出决定。文档资料对于指导和证实如何提高清洁度是不可或缺的，成像过程记录至关重要即使是单个颗粒，您也可以调整匹配质量，匹配质量表示了采集到的被分析颗粒的光谱与数据库中参考光谱之间的匹配程度。匹配度较高（即数值较大）的匹配将自动突出显示，为您解读分析结果提供指导。

将 Cleanliness Expert 软件与 LIBS 分析相结合可获得以下优势：

一眼就可以高效获得软件和报告中显示的额外信息

更清晰地观察结果，便于操作和分析

能够调整每个颗粒的匹配质量

软件设计简单直观，任何用户均可使用

清洁度专家软件的设计以用户为出发点。用户界面可根据特定需求进行配置，使得不同熟练程度的操作者可以轻松浏览。软件通过直观的方式指导用户快速开始分析。为得到可靠、可复制的结果，所以系统设置存储在一个配置文件中，可自动调用。

选择清洁度专家软件

轻松快速地区分反光 (金属) 颗粒和非反光颗粒

自动调焦和自动检测功能

互动式过滤图，在查看结果的过程中显示动态图像的位置

软件由编码显微镜进行校准，因此自动化分析准确无误

轻松生成报告，共享您的结果

德国徕卡LAS X ID Modules分析软件信息由徕卡显微系统(上海)贸易有限公司为您提供，如您想了解更多关于德国徕卡LAS X ID Modules分析软件报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应德国徕卡LAS X ID Modules分析软件外，徕卡显微系统(上海)贸易有限公司还可为您提供金相分析软件 Leica QMW,Qmetal、徕卡图像分析软件 Leica Qwin等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。

型号：	LAS X ID Modules
产地：	德国
品牌：	徕卡
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