资料摘要
资料下载Dektak XT 是使用single-arch 设计的探针轮廓仪， single-arch 设计及智能电子器件，大大改善了设备稳定性，进一步提高防震性能。Dektak XT在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现，台阶高度重复性可低于4A。
文献贡献者
台阶仪在晶圆测试的应用
简介：Bruker Dektak-XT接触式表面轮廓仪（台阶仪）作为Dektak系列第十代产品，经过50多年的更新升级及技术创新，目前已成为使用广泛的接触式表面检测设备，有着众多的用户群体并得到好评。
手持式Tracer X射线荧光分析仪在农业科学研究中的应用
简介：研究营养的吸收、植物处理效果和有毒金属污染，还有其它研究如提高农作物品质、营养及产量，都需要能够测量轻元素并能进行精细的光谱分析的X射线荧光分析仪。元素分析的成本效益高且实用性强，Tracer X射线荧光光谱仪系统是完全便携式的，可以用来在野外和实验室对轻元素和重元素进行研究。每个样品的分析成本相比外部实验室服务的成本大大减少，而且等待结果的时间不长。Tracer提供百分百的无损分析，不管进行多少次试验,样品都不会有任何变化。Tracer可以让用户设计独特的方法和校准Calibration，来用于研究，并适应于日常的Point-and-shoot点测。布鲁克有非常专业的XRF技术专家，非常清楚其在表面成分分析和体积测量之间细微区别，他们可以提供帮助服务。
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