塞贝克系数/电阻测量系统-ZEM

塞贝克系数/电阻测量系统-ZEM

参考价:面议
型号: ZEM-3
产地: 日本
品牌: ADVANCE RIKO
评分:
应用领域:
QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司
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产品详情

塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3

       ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻 

 

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。  


设备特点:

◆  拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;

◆  测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;

◆  欧姆接触自动检测功能(V-I图);

◆  可以用适配器来测量薄膜;

◆  可定制高阻型。  


参数配置:

型号

ZEM-3M8

ZEM-3M10

温度范围

50-800℃

50-1000℃

样品大小

方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL

加热方式

红外加热

气氛

高纯氦气(99.999%) 

样品温差 

MAX.50℃ 

测量方式

电脑全自动测量


工作原理图:  

设备结构: 


样品腔部分: 


应用方向:

对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。


可选功能:


  1. 薄膜测量选件

ZEMbaomo.jpg

 

2. 低温选件(温度范围-100℃到200℃)

3. 高阻选件(高到10MΩ)


测试数据

烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果


发表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.



用户单位

清华大学

中国科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

中国科学院上海硅酸盐研究所

中国科学院大连化学物理研究所

......




附:


热电材料/器件测试设备


热电材料测试设备

热电转换效率测试设备

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