资料摘要
资料下载2007年1月美国Quantum Design公司郑重推出了多功能振动样品磁强计(VSM)—VersaLab,它是Quantum Design公司推出的种无液氦多功能振动样品磁强计系统,高磁场为3 T,温度范围为50~400 K。可以全自动高精度的进行磁、电、热等多种物性测量。 从某种意义上来说,VersaLab也是一种经济型的PPMS系统(Quantum Design公司一种广为认可的材料研究大平台),因为VersaLab上的测量选件如磁学、电输运、比热等都是从PPMS上移植过来的,是非常成熟可靠的技术,经过了长时间的实验检验,这些测量方法的可靠性和便捷性在过去的十几年中已经得到科学界的广泛认可。与PPMS相比,VersaLab的测量功能和精度几乎完全相同,只不过磁场略低、温区略窄,但产品的诸多新特点使得用户的购买成本和运行成本大大降低。
超精准可调节温度控制模块-VAHEAT 产品简介
简介:德国INTERHERENCE公司推出的超精准可调节温度控制模块-VAHEAT是一款用于光学显微镜的精密温度控制模块,兼容市面上绝大多数的商用显微镜和物镜。该模块独有的智能基底将透明加热元件与高灵敏度温度探头相结合,实现了在高清成像的同时快速和精确地调节温度,加热速率可达100℃/s,最高温度可达200℃,稳定性0.01℃。该模块尤其适用于生命科学和材料科学中的温度敏感过程研究,如活细胞高分辨成像、DNA生物学、热休克蛋白、相分离等。
聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d-技术介绍
简介:ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。
激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH-技术介绍
简介:日本Advance Riko公司新推出的激光闪光法热常数测量系统(型号:TC-1200RH)使用红外金面炉替代传统电阻炉加热,大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。 TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数:热导率(导热系数)、热扩散系数及比热容。
纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω-技术介绍
简介:日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量为简单。
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-技术介绍
简介:如何在不破坏样品的前提下,对大尺寸石墨烯等二维材料的电学性质进行准确快速的测量,是在提升样品质量并推进其实际应用中,亟待解决的重要问题。常规的四探针电阻测量法、原子力显微镜、共聚焦拉曼等表征方法存在测量尺寸小、效率低、对样品有损伤等缺点而无法胜任。 西班牙Das Nano公司推出的石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统-ONYX,采用非接触式方式,快速准确且高效的实现大尺寸石墨烯等二维材料的无损测量,得到电导率、电阻率、载流子和均匀性等分布信息。此方法同样适用于其他二维材料、半导体薄膜、光伏薄膜的电学性质测量。该方法已经成功应用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企业。 与传统四探针测量法相比,ONYX无损测量样品质量空间分布 与拉曼,AFM,SEM相比,ONYX能够快速表征超大面积样品
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