方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 电子元器件产品 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | NA |
作为电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜的一个重要附属功能之一，对样品电导率的测量可以通过对样品表面各处电势测量计算得到。采用特殊的导电样品夹具，可以给样品施加一个均匀的电流，针触点与夹具一端的电压是可以测量的，而触点处的电势是跟该处的电导率相关。因此系统测量塞贝克系数分布的同时也可以测量样品各处的电势分布，根据欧姆定律我们可以计算出每一点的电阻率。
电导率分布和接触电阻测量
需要准备形状相对规则的薄膜样品或块体样品，如果薄膜样品衬底是较为柔软的塑料等有机物，请将样品粘在在硬质的PCB板、硬质塑料板等可以轻微受力的材料上方便固定。薄膜样品需要银胶和导线等将样品与样品夹具进行导电连接。
作为电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜的一个重要附属功能之一，对样品电导率的测量可以通过对样品表面各处电势测量计算得到。采用特殊的导电样品夹具，可以给样品施加一个均匀的电流，针尖触点与夹具一端的电压是可以测量的，而触点处的电势是跟该处的电导率相关。因此系统测量塞贝克系数分布的同时也可以测量样品各处的电势分布，根据欧姆定律我们可以计算出每一点的电阻率。
样品测试示意图
此外，存在界面的样品通过该设备可以测量出界面出的接触电阻。通过测量电阻率随针尖位置的变化，可以得到样品界面处的接触电阻。
层状材料中各处电导率的分布
存在界面的样品中界面处的接触电阻可以通过电势分布计算得到
参考文献：
[1] D. Platzek , G. Karpinski , C. Stiewe , P. Ziolkowski , C. Drasar , E. Müller , in Proc. 24th Int. Conf. on Thermoelectrics , (Ed: T. M. Tritt ), Clemson , USA 2005 , p. 13 .
文献贡献者
利用AFM+SEM二合一显微镜-FusionScope揭秘半导体陶瓷材料微观机理
利用AFM+SEM二合一显微镜-FusionScope表征纳米线阵列
利用FusionScope进行纳米力学测试，测试动态全程可见
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