| 供货周期： | 现货 |
| 品牌： | M2N(微纳伙伴) |
| 货号： | 25-010300 |
众所周知，优质显微镜用品和耗材是微束分析领域样品制备和产生理想结果的必要条件。成功的样品制备是从样品中获取优质图像和可靠数据的关键步骤。荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品，遵循“创新、实用和优质”之理念，产品用于电子显微镜和扫描探针显微镜技术领域。M2N公司在电子显微镜、样品制备、成像技术和产品分销领域拥有50多年的行业经验，对客户的需求有着深刻的理解。我们的显微镜用品，特别是电子显微镜用品，能为客户提供当前任务所需的耗品耗材。
覃思科技 (www.tansi.com.cn)是荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品的代理商。提供优质和创新的样品座、碳膜载网、校准标样、靶材、碳棒、碳绳、工具、银导电胶、碳胶带、铜胶带、储存盒、真空密封等各种耗材器具，欢迎新老客户咨询下单！
铜提升格栅
铜制EM-Tec光纤提升格栅可提供2、3、4或5个立柱。厚度为30-40μm，这使得它们比标准TEM网格更加坚硬。EM-Tec-FIB提升栅经过独特的清洗过程以减少污染；这导致TEM片层的安装和成像得到改善。由于制造工艺的原因，铜丝提拉网格在正面边缘有一个背脊，并且侧壁光滑。包装尺寸为瓶/100。
2 post FIB lift-out grid | 3 post FIB lift-out grid | 4 post FIB lift-out grid | 5 post FIB lift-out grid |
post size 250x200μm | post sizes 125x200 & 80x200μm | post size 80x200μm | post size 60x190μm |
attach single lamellas | attach multiple TEM lamellas | attach many TEM lamellas | attach many TEM lamellas |
钼EM-Tec纤维提升格栅
Mo-EM-Tec-FIB提拉栅比铜栅更坚固，也可用于铜干扰TEM片层研究的场合。标准Mo-FIB提升式格栅的厚度为45-55μm。可提供2、3和4根立柱。由于材料和制造工艺的原因，Mo-FIB提拉网格的侧壁比Cu-FIB提拉网格的侧壁粗糙。因此，需要使用FIB使侧壁更光滑。包装尺寸为小瓶/25。
2 post FIB lift-out grid | 3 post FIB lift-out grid | 4 post FIB lift-out grid |
post size 250x200μm | post sizes 125x200& 80x200μum | post size 80x200μm |
attach single lamellas per post | attach multiple TEM lamellas | attach many TEM lamellas |
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