半导体激光器参数测量

2012-05-09 15:38  下载量:14

资料摘要

资料下载

LIV100对激光二极管Chips以及bars的性能测试,可以快速找出缺陷二极管,节约封装成本。而对最终封装产品的快速测量,可以达到100%质量控制。 LIV100可实现激光二极管芯片在线自动检测以及最终封装产品的特性分析。

资料下载

文献贡献者

资料中心 更多

相关产品

当前位置: 仪器信息网 GW 资料 半导体激光器参数测量

关注

拨打电话

留言咨询