| 型号： | BEX-8205（2） |
| 产地： | 浙江 |
| 品牌： | 博源光电 |
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该系统采用积分球倒置设计，可升降的样品台，能快速方便准确地测量粉末装片状样品的荧光光谱，如果对系统进行相对强度定标，则可以测量荧光光谱的色度学参数，也可以对系统进行绝对强度定标，则可以测量荧光光谱的绝对强度，方便用户计算得到相应的转换效率。
特点
积分球倒置设计，方便粉末状样品测量
灵活的系统配置以满足用户需求
专业的软件，可以满足光谱测量，色度学测量等
应用
粉末状样品的荧光光谱测量
块状样品的荧光光谱测量
片状样品的荧光光谱测量
配置清单
波长范围 | VIS-NIR |
光谱仪 | 350-1050nm，分辨率~1nm （光谱仪的规格可根据实际应用需求作调整） |
光源 | 根据应用选择合适的激发光源 |
光纤 | SIM-6102-1010，石英光纤。光纤数量：2 |
积分球 | 根据应用选择合适的倒置型积分半球 |
积分球支架 | 可调高度的样品台 |
软件 | BSV光谱分析软件 |
*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接
测量案例
某样品的荧光光谱
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