PIKE

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品牌: PIKE
货号: 4652546
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产品详情

技术特点:

MappIR和MAP300为工业半导体用户提供了一套高性价比、自动化的晶圆分析和质量控制工具,适用于Si的C\O含量分析、Si或SiC等的外延层厚度分析、BPSG分析,适合2″ ~ 12″(300mm)的wafer。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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