方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 详见资料 |
就需制备能用于微观检验的样品――金相试样，也可称之为磨片。金相试样制备的主要程序为：取样（低速切割锯）—嵌样(对于小样品)—磨光（单盘研磨机）—抛光（半自动/全自动研磨机）一浸蚀等
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