| 型号： | CRAIC 508PV |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | CRAIC |
| 评分： |
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508 PV™ 通用型显微镜分光光谱仪设计用来给您的光学显微镜或探测台增加先进的光谱学、彩色成像、薄膜厚度测量和色度学等功能。拥有前沿的光学、电子学和软件等优势，它可以用来更新老旧的显微分光计。
508 PV™通用型显微分光光谱仪附加到开放的图像端口（photoport）上让您能够收集到纤显微样品的透射比、反光率、偏振甚至是荧光性和发冷光性能。通用型显微分光光度计拥有CRAIC公司产品Lightblades™分光光度计的特点，可测量光谱的范围是紫外光到近红外光。您使用508PV™甚至可在不破坏的情况下迅速轻松地获得次微米级样品高质量的光谱的图像。
508 PV™ 通用型显微镜分光光谱仪是一款理想的多用途仪器，例如用于平板显示器像素点的色度学、镜质体煤块和源岩的反射测定法，或者是光学器件和半导体的薄膜厚度测量。
主要特点
· 拥有 Lightblades™ 分光光度计的特点，专为显微光谱学设计
· 用户可选择从深紫外光到近红外光范围的光谱
· 250至1000纳米可用光谱范围
· 永久调整，可变测量区域
· 热电冷却可用来改善信噪比和保持长时的稳定性
· 分辨率高，最高可达5百万像素，还带有数字彩色成像......
· 拥有Lambdafire™分光计、成像控制和分析软件，Lambdafire™也包括触屏控制。
· 透射比显微光谱学
· 反射率显微光谱学
· 偏振显微光谱学
· 薄膜厚度测量
· 显微样品的色度学
· 用rIQ™包测量折射率
· 自动操作
· 对样品温度精确地控制
· 包括数据分析、光谱数据库、图像分析以及更多的专业软件
· NIST可追踪显微分光计标准
技术参数描述：
（1）光谱范围 | 包括紫外-可见-近红外光谱250-2100nm。 |
（2）光谱分辨率 | 可选择1至15nm不同光谱分辨率，可根据具体应用预先进行选择。 |
（3）探测器 | CCD探测器，带有半导体制冷功能。 |
（4）多种检测模式 | 具有透射、反射、偏振、荧光等多种检测模式。 |
（5）采样面积 | 六种永久校准的采样面积可供选择，最小采样面积100倍物镜下0.7μm2，50倍物镜下0.95μm2，能够满足干酪根测试中对微小镜质体的测量要求。能够在成像系统中看到以便精确选取样品的微小区域，进行光谱测量。 |
（6）结构 | 光谱仪和成像系统合并为一体，高度集成，无外部光纤连接，无额外光路，避免引入误差, 接收光学距离( 从显微镜到光谱仪)小于30cm。仅需一套光学仪器即可在紫外-可见-近红外光谱范围实现吸收或透射，反射及偏振测量。 |
（7）数码成像系统 | 配有高分辨率数码成像系统，分辨率600万像素。能够在显示器上清楚地看到采样区域，既可以实时成像又能拍摄和保存图像，方便与光谱进行对比分析。 |
8）光谱扫描速度 | 最快4ms |
（9）接口 | USB接口。 |
（10）背景灯 | 具有背景灯确定测量位置，并用于精确调节测量光斑中心及大小。 |
（11）暗电流校正 | 暗电流自动校正，其灵敏度和稳定性及精度均高。 |
（12）光路抗干扰 | 光路里加入电子控制Shutter，可自动去除背底光,，有效去除外界干扰，保证测量准确性和设备稳定性。 |
分光光度计范围 | 200-900nm;350-1000nm;900-1700nm;900-2100nm |
荧光激发 | 465-546nm |
激光光源 | 可选 |
采集面积 | 1-10000平方微米 |
光谱分辨率 | 1-15可调 |
探测器 | CCD阵列 |
探测器制冷 | 半导体制冷 |
扫描时间（全光谱） | 最小4ms |
高分辨率彩色显像 | 包括 |
成像分辨率 | 高达500万像素 |
制图与编程 | 可选 |
操作系统 | Windows7,8 |
将显微光度计添加到任何显微镜或者探针站上：
508PV™旨在为的显微镜增加微区一体化多光谱工作站功能，或可用来升级旧显微分光光度计。 508 PV™的光谱范围从深紫外到近红外，结合了多种形式的光谱和高分辨率彩色成像。 508 PV™安装在显微镜的开放式光端口上，能够测量吸光度、反射率、偏振、荧光和光致发光。功能还包括高空间分辨率光谱映射、比色法、动力学和小点薄膜厚度测量。
前沿领域：荧光光谱和发冷光光谱：508 PV™可以配置为甚至亚微米样品的荧光和发光光谱。具有Lightblades™技术和从紫外线到近红外测量荧光和发光的能力，508 PV™是材料科学、生物学、地质学等光致发光分析的强大工具。
高分辨率彩色数字成像：508 PV™具有高分辨率、彩色数字成像和复杂的软件。它可以让你同时看到分光光度计的入口孔径和样品。这使得它非常容易对准样品的测量和捕获全彩色图像在任何测量条件下。
紫外-可见-近红外光谱
508 PV™结合了成像系统，设计用来附加到任何带有图像端口的显微镜上。它可以配置成工作范围为深紫外光到可见光再到近红外光如此宽广的范围，让您的系统拥有测量如膜厚度和色度学等数据的新功能。508 PV™带有 Lightblades™科技的特点，甚至允许您测量微米级样品的透射比、反射率、偏振和荧光光谱。
荧光性
The 508 PV™ 甚至可以装配用来测量微米级样品的荧光性和冷光光谱学性能。因为508 PV™带有 Lightblades™科技的特点，也有测量从紫外光到近红外光的荧光性和冷光性能，所以它是显材料科学、生物学、地质学等显微荧光测定的强大工具。
偏振
偏振显微光谱学
经过装配， 508 PV™可以获得显微样品的偏振光谱的图像。它带有科技的特点，它的偏振显微光谱学能力让您能够快速轻松地获取双折射以及其他类型样品的光谱。
光谱表面映像
光谱表面映像由自动光谱分析软硬件包和用显微镜立体分辨得到的样品5D映像组成。样品吸光度、透射比、反射率、释放光谱和拉曼光谱的5D图像可以生成。
成像和显微镜
高分辨率数字彩色成像
508 PV™分辨率高，复杂精细的软件使它能够数字彩色成像。它让您能够同时看见分光光度计入口光圈和样品，这样您就能够轻松地测量样品并获得任何条件下的全尺寸彩色图像。
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