颗粒物排放连续监测系统(PM CEMS)
优选

颗粒物排放连续监测系统(PM CEMS)

参考价:面议
型号: Model 3880i
产地: 美国
品牌: 赛默飞
评分:
核心参数
创新点
采用光散射法和质量微天平方法监测颗粒物的连续排放。测量结果可溯源至NIST标准的真正质量浓度,可以满足日益严格的精度要求。贴合严格的低浓度尘排放监测要求。连续测量可过滤颗粒物,不受颗粒物特性变化影响,满足美国EPA PS-11的要求,TEOM方法可进行内部质量参比校正。颗粒物CEMS采用稀释抽取法,允许更低传输温度,并可以减少维护量,提高系统使用寿命和运行时间。
赛默飞世尔环境与过程
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产品详情

Thermo ScientificTM颗粒物排放连续监测系统的特点是采用两种测量方式,测量结果是可溯源至NIST标准的真正质量浓度,可以满足日益严格的精度要求。


  • 连续测量可过滤颗粒物

  • 不会受颗粒物特性变化的影响

  • 设计满足美国EPA PS-11的要求

  • TEOM方法进行内部质量参比校正


先进的技术

我们的颗粒物CEMS综合了光散射法和质量微天平方法的优点,可以准确测量烟气中颗粒物浓度。系统不受颗粒物大小、化学组成变化的影响,系统通过重量参比法进行线性修正。系统设计满足美国 EPA性能规范PS-11、质量保证程序Procedure 2的要求,并通过了审核程序Method 5或17的验证。


受电厂燃料、工艺过程、控制参数的影响,烟气颗粒物的变化性和动态特性变化非常强。颗粒物CEMS采用光散射、锥形微量振荡天平(TEOM)双测量原理,可以辨别质量浓度变化还是颗粒物其它特性变化。锥形微量振荡天平(TEOM)是质量传感器,对连续测量的光散射设备进行内部参比校正。


颗粒物CEMS采用稀释抽取法,允许更低的传输温度,并可以减少维护量,提高系统使用寿命和运行时间。按一定比例稀释的样品被抽取进入光散射平台,这一部分进行系统连续测量。在一个可选择的时间表中,样品通过光散射平台后,进入TEOM惯性微量天平平台对光散射响应换算为真正的质量浓度。


颗粒物CEMS由稀释抽取探头,Model 3880i探头控制器,气动电气管束组成。烟道流速可以通过模拟量、数字化通讯方式输入进入系统,仪表气清洁系统和机箱空调都是可选项。


技术参数


量程0–250 mg/m3(可适用于0-5mg/m3低浓度排放监测)
准确度

± 20%未进行污染源校正;± 10%污染源校正后

检测限0.25 mg/m3 @ 15分钟整合时间
响应时间(T90)15 分钟
电源200–240 VAC @ 50/60 Hz, 30A
仪表气80 slpm @ 0.55~0.7MPa(75–100 psi)
探头尺寸

1117.85mm (宽)+ 914/1524mm护套 X 474.73mm (高) X 07.09mm (深)

探头重量59 Kg 
探头控制器尺寸

482.6mm(19”)(宽) X 18.95mm(8.62”)(高) X 655.32mm(25.8”)(深)

探头控制器重量25 Kg. 
最高烟气温度200℃(更高温度需向工厂确认)
环境温度

探头控制器操作温度4–50 ℃; 无凝结水

模拟量输出

6 路电压 0–100 mV, 1, 5, 10 V;6 路电流 0-20 mA, 4-20 mA

开关量输出1 路电源故障, 10 路继电器




颗粒物排放连续监测系统(PM CEMS)信息由赛默飞世尔环境与过程为您提供,如您想了解更多关于颗粒物排放连续监测系统(PM CEMS)报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应颗粒物排放连续监测系统(PM CEMS)外,赛默飞世尔环境与过程还可为您提供其他等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。
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