方案摘要
方案下载应用领域 | 地矿 |
检测样本 | 金属矿产 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
奥林巴斯的X射线荧光(XRF)分析仪具有很高的分析性能,可以实时提供地球化学数据,从而有助于用户快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。随着XRF技术发展,增加了可测元素的数量,改进了检出限,并降低了检测时间。 Vanta XRF分析仪在金矿上和金矿实验室中,可以快速方便地测量与黄金勘探相关的很多种类的样本,而且还可以对精炼黄金产品进行快速准确的分析。
通过对土壤、钻屑和钻芯中的探途元素进行XRF分析,可以快速发现潜在的金元素矿化的情况。
使用XRF分析仪对样本进行预先筛选,可以获得优选样本,合理使用分析经费,以及更准确地确定钻井的区域。
通过XRF技术绘制结构特性的映射图,并识别矿化蚀变区域,可以使用户更好地了解矿床,并有助于成功完成建模和定向工作。由于减少了稀释方式的使用,因此可以获得更好的金采收量。
在岩石地球化学应用中使用XRF技术,可以迅速、经济地为岩石进行分类。
大多数金矿床都有其特定的地球化学特征(如上表所示)。XRF分析仪可以探测到这些地球化学特征,从而可使地质学家更清楚地了解他们正在勘查的地质系统。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。
常见金探途元素的典型XRF检出限(Vanta VMR型号地球化学模式)
众所周知,手持式XRF分析仪不能对地质样本中低含量的金元素进行直接检测(如:低ppm和ppb值)。基于实验室的火试金法被普遍认为是分析金元素的优选方法。金元素的L线处于X射线荧光能量频谱的非常拥挤的区域。在频谱的这个区域中,来自其它元素(如:As, Zn, W和Se)的干扰,会使分析仪得出错误的金元素存在的判断。
不过,在某些特定的情况下,如:高品位的(> 5 ppm)石英脉环境(相对来说没有干扰)或在精炼的金产品中(金元素有很高的含量),可以使用XRF分析仪对金元素进行直接检测。
金矿上越来越多的实验室正在使用XRF技术替代或补充火试金法,对矿石进行分析。请参阅奥林巴斯应用注释“在金矿实验室中使用手持式XRF分析仪”。在矿山上,工作人员也会使用奥林巴斯手持式XRF分析仪检测活性炭中的金元素。请参阅奥林巴斯应用注释“检测活性炭中的金元素”。
图像由Arne等提供(2014) – 在金元素勘探中对来自便携式XRF分析仪的资产规模数据的使用 – 优势和局限性,地球化学:勘探,环境,分析。
来自加拿大的金元素勘探项目,XRF分析仪在野外绘制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值线图对比ICP分析。
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