| 型号： | SpecEl-2000-VIS |
| 产地： | 美国 |
| 品牌： | SP |
| 评分： |
|
SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。波长范围200-900nm。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。
SpecEl由一个集成的光源，一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成，并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜，分辨率0.1nm，测量时间5-15秒，并且折射率测量可达0.005%。
| 波长范围: | 380-780 nm (标准) 或450-900 nm (可选) |
| 光学分辨率: | 4.0 nm FWHM |
| 测量精度: | 厚度0.1 nm ; 折射率 0.005% |
| 入射角: | 70° |
| 膜厚: | 单透明膜1-5000 nm |
| 光点尺寸: | 2 mm x 4 mm (标准) 或 200 µm x 400 µm (可选) |
| 采样时间: | 3-15s (最小) |
| 动态记录: | 3 seconds |
| 机械公差 (height): | +/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0° |
| 膜层数: | 至多32层 |
| 参考: | 不用 |
相关产品
海洋光学 SpectrumTEQ光致/电致发光量子效率测量系统
霍尔效应传感器（磁场测量传感器）
全新 Sophia 超低噪声CCD相机
全新 KURO 背照型sCMOS相机
ProEM EMCCD电子增益相机
PI-MAX4 ICCD相机 & emICCD 相机
全新 NIRvana 短波近红外InGaAs相机
PyLoN 成像型与光谱型相机
PyLoN-IR 线阵型InGaAs相机
PIXIS 成像型与光谱型相机
eXcelon & EMCCD 去干涉与电子增益技术 相机
普林斯顿仪器 PIXIS-XO 软X射线相机
PI-MTE 真空内置X射线相机
普林斯顿 PIXIS-XB 直接探测型X射线相机
普林斯顿仪器 PIXIS-XF 间接探测型X射线相机
关注
拨打电话
留言咨询
