R3系列反射光谱率测量系统_价格_上海复享光学股份有限公司

产品详情

R3 反射光谱测量系统
多角度反射率光谱测量

反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。

复享科技为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享科技R3反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　

更多优惠信息： http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=R3

应用案例

典型光谱测量系统示意图

产品特点

1、丰富的模块化附件方便用户自由组合配置。

2、方便用户标准化测试方案，优化实验方案

3、通过固定光纤，探头，光源和光谱仪减少用户占用资源。

R3系列反射光谱率测量系统信息由上海复享光学股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于R3系列反射光谱率测量系统报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应R3系列反射光谱率测量系统外，上海复享光学股份有限公司还可为您提供其他等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。