矢量图快速读出荧光寿命及内涵

2016/08/03   下载量： 6 次

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应用领域 生物产业
检测样本 其他
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参考标准 FLIM

介绍采用矢量图方法，解析采用频域荧光寿命测试技术，涉及寿命数值的拟合及意义。 对比TCSPC，我们获得的是直接的衰减曲线，通过对衰减曲线的直观观察，在对数纵坐标情况下，直线或弧线，倾斜的差异，我们可以读出寿命的个数或者是寿命平均值的差异。但是对于频域技术测试荧光寿命，我们获得是相差以及模的变化，无法直接给出寿命的判断，但是我们利用创造性的矢量图，可以快速直接得到寿命的细节信息，包括指数个数、寿命的数值大小。为进一步利用频域技术的快速测试打下基础，也是测试技术突破性进步。

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频域技术测试荧光寿命，不依赖激发源的快速闪烁频率，测试速度快，不存在TCSPC的无响应时间导致的测试速度限制（通常为90ns）；所以理论讲，频域技术测试荧光寿命，可以比TCSPC快上月10倍，为动态荧光寿命成像创造了可能。

对于频域技术的诟病，一直是我们无法直接读取寿命，不够直观。本文讲解采用矢量图方法，简化了需要大数据量拟合后获得荧光寿命的过程，在矢量图中直接读取荧光寿命，包括指数个数等，完全跨越了拟合过程，是荧光寿命测试技术的里程碑式进步。是的频域技术获得崭新的形象。


本文的作者是荧光光谱测试原理作者，马里兰大学教授Joseph R. Lakowicz；希望读者对这个中国使用者比较陌生的频域荧光寿命测试技术有一个新的印象。

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天津东方科捷科技有限公司
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