Phenom Particle Metric 颗粒测试
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Phenom Particle Metric 颗粒测试

参考价:面议
型号: ProX
产地: 荷兰
品牌: Phenom
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核心参数
复纳科学仪器(上海)有限公司
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产品详情

颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片,并生成报告。借助该软件,用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数,颗粒软件全自动化的测量,可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。


借助颗粒系统软件,用户可随时获得数据。因此,它加快了分析速度,并提高了产品质量。


  • 联机或脱机分析

  • 收集颗粒的属性数据,例如当量直径、圆度、长轴短轴比、凸包度等

  • 借助超大视野拼图软件,可获得大量颗粒的分析数据

  • 先进的识别算法,用户自由选择默认设置或高级设置

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Phenom Particle Metric 颗粒测试信息由复纳科学仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于Phenom Particle Metric 颗粒测试报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应Phenom Particle Metric 颗粒测试外,复纳科学仪器(上海)有限公司还可为您提供飞纳台式扫描电镜、飞纳台式扫描电子显微镜专业版Pro等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。
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