型号: | J200 |
产地: | 美国 |
品牌: | ASI |
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J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)具有简单直观的图形界面,专有的化学计量软件利用一组高度复杂的统计算法为我们的LIBS仪器增加了材料鉴别能力,非常适合实验室分析和生产监控应用,该仪器能够监测具有分析意义的单个或多个元素,坚固的仪器设计确保了每个激光脉冲的可重复测量结果,是挑战许多样品基质中定量元素分析的理想仪器,从而使我们的客户能够进行高度创新的LIBS研究。
应用须知:
1、激光诱导击穿光谱仪(LIBS)进行植物分析;
2、使用激光诱导击穿光谱法(LIBS)对钢进行定量分析;
3、使用J200 LIBS仪器快速监测原始锂离子电池电极材料的成分;
4、使用LIBS对半导体引线框架上的薄焊料镀层进行快速铅(Pb)分析;
5、使用J200 LIBS仪器进行可重现的测量以实现可靠的质量控制;
6、应用Spectra的J200 LIBS建立法证玻璃分析的信心。
注意事项:
1、设备是属于精密型的仪器,在运输方面要轻拿轻放,防止发生碰撞现象;
2、设备在使用的过程中,要放置在平稳的地方,才能测试的准;
3、每次使用完要用干布子进行擦拭,不可用水直接冲洗。
J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)具有简单直观的图形界面,允许多个用户使用不同的访问权限来操作仪器软件,借助正在申请专利的ASI硬件技术,可确保我们的客户的LIBS测量准确且可重复,J200 LIBS采用独特的聚光光学设计,可将大量的等离子光耦合到检测器模块,此功能可实现高的灵敏度性能。
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