方案摘要
方案下载应用领域 | 材料 |
检测样本 | 陶瓷 |
检测项目 | |
参考标准 | / |
电子显微镜是我们目前常用的材料表征手段之一。其中透射电子显微镜(TEM)对样品大小有极高的要求,需要直径大小不超过3 mm的薄片,因此在进行最终减薄之前,我们需要对样品进行快速有效的精细的机械减薄处理。本文中用到的样品材料是锆钛酸铅系陶瓷。
本文采用了徕卡EM TXP精研一体机处理像陶瓷片这类易碎的样品。
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