KDK-KDY-1低阻型四探针检测仪方阻仪四探针电阻率检测仪采用GBT 1552-1995

2023-07-31 10:34  下载量:5

资料摘要

资料下载

KDK-KDY-1低阻型四探针检测仪方阻仪四探针电阻率检测仪采用GBT 1552-1995 仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 (2)范围:电阻率10-5~10+3欧姆·厘米,分辨率为10-5欧姆·厘米 方块电阻10-4~10+4欧姆/□,最小分辨率为10-4欧姆/□ (3)可测量材料:半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等 可准确测量的半导体尺寸:直径≥20㎜ 可测量的半导体尺寸:直径≥8㎜ (4)测量方式:平面测量。 (5)电压表:双数字电压表,可同时观察电流、电压变化 A.量程0~19.999 mV B.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度) C.灵敏度:1uV D输入阻抗﹥1000MΩ E 4 1/2位数字显示,0~19999 (6)恒流源: A.电流输出:直流电流0.003~100 mA连续可调,有交流电源供给 B.量程:10uA,100uA,1 mA,10 mA,100 mA五档 C.恒流源精度:各档均≤±0.05% (7)四探针测试探头 A.探头间距1.59㎜ B.探针机械游率:±0.3% C.探针直径0.8㎜ D.探针

资料下载

文献贡献者

资料中心 更多

相关产品

当前位置: 仪器信息网 恒奥德仪器仪表 资料 KDK-KDY-1低阻型四探针检测仪方阻仪四探针电阻率检测仪采用GBT 1552-1995

关注

拨打电话

留言咨询