测试半导体器件性能方法高低温拉力试验机检测仪器_检测方案

方案摘要

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应用领域	半导体
检测样本	光电器件
检测项目
参考标准	GBA2423.1-2008

高低温拉力试验机适用于材料在高低温恒温恒湿环境下拉伸、压缩等多项物理力学性能试验，鼠标选择操作，数据和曲线随试验过程动态显示。简单方便。适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料在恒温恒湿环境的力学性能试验。

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配置单

电子拉力试验机高低温伺服拉力试验仪
型号：GDSL系列

¥5万 - 10万
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方案详情

测试半导体器件性能方法高低温拉力试验机：

目的：

用于测试半导体器件在不同温度下性能的设备。它可以模拟各种环境温度，从而对半导体器件的性能进行全面的测试和评估。用于测试半导体器件的温度特性。在不同的温度下，半导体器件的电性能会发生变化，因此需要对其进行测试。通过半导体高低温测试机，可以模拟各种温度环境，从而对半导体器件的温度特性进行测试和评估。半导体高低温测试机还可以用于测试半导体器件的可靠性。在不同的温度下，半导体器件的可靠性也会发生变化。通过半导体高低温测试机，可以模拟各种温度环境，从而对半导体器件的可靠性进行测试和评估。半导体高低温测试机还可以用于测试半导体器件的性能稳定性。在不同的温度下，半导体器件的性能稳定性也会发生变化。通过半导体高低温测试机，可以模拟各种温度环境，从而对半导体器件的性能稳定性进行测试和评估。

试样制备：

首先需要将待测试的芯片、集成电路等半导体器件获取到样品，并在其表面镀上金属，以便与测试机上的针脚连接。

设备连接。将测试机上的针脚和器件相连接，使测试机能够获取并控制芯片上的信号和电流。

温度设定。在连接完成后，将设备进入恒温状态，并将其温度设定为指定的高低温范围内。

测试信号发送。当设备已经到达设定的温度后，将测试信号发送至芯片上，以获取该器件的性能数据。

性能参数分析。通过将性能参数与测试机的预定义值进行比较，可以确定芯片的性能情况。如果芯片的性能参数不符合预期的值，则需要对芯片进行修复或更换。

测试方法：

可提供-85～250 度的测试环境温度，设备不直接作用于测试物件，而是连接到一个测试平台适配器上，部件内部通过导热介质进行加热和冷却测试，控制温度精度保持在±0.3℃。

半导体电源芯片高低温测试均可以和电脑连接，通过组态软件实现电脑画面与仪器设备画面同步，通信距离 200 米以内均可轻松实现温度设定，实时控制画面。7 寸彩色大屏幕，温度曲线记录，程序选择及报警画面记录等。实现可视化、数据储存和汇报分析。

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