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SpecEl 椭偏仪

SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。

集成的精确测量系统

SpecEl由一个集成的光源，一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成，并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜，并且折射率测量可达0.005%。

SpecEl可通过电话问价。

通过SpecEI软件，你可以配置及存贮实验设计方法实现一键分析，所有的配置会被存入recipe文件中。创建recipe后，你可以选择不同的recipe来执行你的实验。

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SpecEI 椭偏仪信息由筱晓（上海）光子技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于SpecEI 椭偏仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应SpecEI 椭偏仪外，筱晓（上海）光子技术有限公司还可为您提供其他等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。

供货周期：	现货
品牌：	完美光子