碳基底锡球检测标样主要用于SEM和LM 2 5 0 -5,000x倍下的分辨率检测工作,也适合检测和校正成像质量(畸变、像散、对比度、亮度等)。同时,也可比较获得探针尺寸。锡球粒径范围:1-1-10μm
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