HAST高压加速老化试验箱HT-HAS-25

HAST高压加速老化试验箱HT-HAS-25

产品特点：

内胆采用双层圆弧设计,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。

产品满足JESD22-A100至A118偏压（BHAST）或不偏压（UHAST）加速抗湿性试验以及饱和高压蒸汽（蒸煮）试验。

产品兼容高加速温湿度应力HAST老化试验和高压蒸煮PCT抗湿性试验。

HAST高压加速老化试验箱HT-HAS-25

产品作用：

hast老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

HAST高压加速老化试验箱温湿度偏压寿命设备

执行试验标准

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法CX:不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分: 试验方法.试验Cx : 态湿热JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验(温湿度偏压寿命)

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压末饱和高压蒸汽

HAST高压加速老化试验箱HT-HAS-25

产品技术参数.

1、温度范围：105~132度或105~143度或105~155度，三个温度规格供选择

满足温度范围+105℃~+162.5℃,压力范围0.05~0.3Mpa

2、压力范围：0.2～2㎏/㎝2(0.05～0.196MPa) 、0.2～3㎏/㎝2(0.05～0.294MPa)、0.2～3.5㎏/㎝2(0.05～0.343MPa)（可选）

3、加压时间：约45min

4、外部气源加压时间：约5 min

5、温度均匀度：≤±0.5℃（湿度100%R.H），≤±1℃（湿度75%R.H）

6、温度波动度：≤±0.5℃

7、湿度范围：65%～100%R.H

8、湿度波动度：≤±2.5%R.H.