| 型号： | 扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 日立 |
| 评分： |
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扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
“先进的SEM更为紧凑”
宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计，仍具备4.0 nm的图像分辨率。
全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。
FlexSEM 1000 II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM MAP”，这个功能可弥补电子显微镜上难以找准视野的缺点，实现直观的视野移动。
· 尽管是可放置在桌面上的小巧紧凑型*1电子显微镜，仍可实现4.0 nm的分辨率
· 凭借独特的高灵敏度二次电子、背散射电子检测器、低真空检测器（UVD*2），可在低加速/低真空下观察时实现高的画质
· 全新的用户界面，无论用户的熟练程度如何，都可实现高画质和高处理能力
· 全新的定位功能“SEM MAP”，支持观察时的视野搜索和样品定位
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