氮化硅薄膜膜厚标准物质 GBW13962

报价：面议
供货周期： 现货
品牌： 计量院
型号： 1片（证书批次值为准）
货号： GBW13962
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氮化硅薄膜膜厚标准物质



标准物质编号：GBW13962
中文名称：氮化硅薄膜膜厚标准物质
英文名称：Thin Film Thickness CRM of Si/Si3N4
应用领域：光学特性
标准物质用途：校准仪器和装置；评价方法；工作标准；质量保证/质量控制；其他
保存条件： 真空包装，阴凉、干燥处存放
使用注意事项：样品开封使用应保证取样工具等洁净，避免样品沾污。
量值信息：

标准值不确定度单位
氮化硅薄膜膜厚104.91 0.32 nm

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