FLIR X系列科研热像仪，满足芯片设计红外投影仪的高速检测需求！检测仪器_检测方案

方案摘要

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应用领域	半导体
检测样本	集成电路
检测项目
参考标准	热能

航空航天和自动驾驶汽车设计的未来发展中，硬件在环(HWIL或HIL)测试非常重要，它能让研发团队模拟运行数百或数千个不同的测试场景，而无需成本、时间或与现场测试相关的潜在风险。今天给大家说一个研发团队使用FLIR科研级高清红外热像仪，捕捉高速运转事物的案例~

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配置单

FLIR X8580™系列科学级高清中波红外热像仪
型号：FLIR X8580™系列

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方案详情

航空航天和自动驾驶汽车设计的未来发展中，硬件在环(HWIL或HIL)测试非常重要，它能让研发团队模拟运行数百或数千个不同的测试场景，而无需成本、时间或与现场测试相关的潜在风险。今天给大家说一个研发团队使用FLIR科研级高清红外热像仪，捕捉高速运转事物的案例~

HWIL测试的高速要求

HWIL测试大多应用于高超音速飞行技术研究应用，需要尖端技术，而芯片设计系统公司（Chip Design Systems，简称CDS）在这些测试的红外场景投影仪领域处于领先地位。为了满足客户的需求，通常必须是以超音速移动的目标进行模拟，而CDS的投影仪能以5万赫兹的速率显示场景。

CDS红外场景投影仪中鹦鹉的实际投影红外图像

CDS的红外投影能力很清晰，但测试它们带来了挑战：无论是人眼还是非军用级摄影机都无法捕捉到投影仪发射的所有数据。为了确保投影仪正常工作，CDS需要能够捕捉投影仪发射的尽可能多的红外信息。他们的解决方案是选择Teledyne FLIR（即X系列机型）的高速高清科研红外热像仪。

FLIR X8500系列热像仪

FLIR X8500系列高清科研级红外热像仪是一款专为需要拍摄高速事件的详细图像、自定义测量目标辐射数据，检测复合材料、太阳能电池和电子产品故障点的科学家和工程师而设计。这款红外热像仪将1280×1024高清分辨率与高帧率相结合，使研究人员能够记录高速事件的每个动态细节或温度的迅速变化，无论是在实验室环境下还是在现实测试范围内均是如此。

FLIR产品：满足实验室需求

CDS经常在实验室进行测试，以确保发射器工作正常，并进一步提高性能。这些测试包括将FLIR热像仪与发射器对准以捕获光线，然后使用FLIR研究应用软件（例如FLIR research Studio）控制热像仪设置以优化捕获并显示结果图像。为了保证可重复性，CDS还利用FLIR科学热像仪SDK开发了自己的代码，来自动化测试过程，避免热像仪操作中的人为错误。