PHI X-tool 全自动扫描型微区探针_价格

PHI X-tool 全自动扫描型微区探针

参考价：面议

型号：

X-tool

产地：

日本

品牌：

PHI

评分：

产品详情

PHI简介

ULVAC-PHI为全球超高真空表面分析仪器供应商的ling导者，ULVAC-PHI创新的X射线光电子能谱技术（xps）、俄歇电子能谱技术（AES）、二次离子质谱技术等为客户在材料分析方面提供全面且du一无二的解决方案。所提供的仪器：X射线光电子能谱仪、俄歇电子能谱仪、动态二次离子质谱仪和飞行时间二次离子质谱仪，可解决客户端广泛的表面分析问题。主要应用在纳米技术、微机电、存储介质、生化材料、药物化学、家属、高分子、有机电子等领域。

X射线光电子能谱分析（XPS）是用X射线照射固体表面，测定表面深约10nm激发的光电子能谱图，来获取表面组成及化学结合状态的分析方法。

PHI X-tool产品特点：

·卓越的操作性并支持多国语言的分析软件：

PHI X-tool软件支持简单直观的触摸屏操作，及全部的XPS测定操作；

用户可从手动操作到自动操作（自动定性、定量、分析及完成报告）；

操作性强，无论是否有经验，均可完成测定

另，采用平板电脑，实现了智能的操作环境

·自动测试及自动报告：

具备分析点的Auto-Z自动对中功能（高速自动的高度调整），绝缘样品的全自动中和功能

实现测定位置的设定，未知样品的测定及分析

·PHI独有的zui先进的硬件配置

独有的扫描微聚焦X射线源（专利），分析面积在20μm~1.4mm

采用低能电子和Ar离子同时作用绝缘体表面，实现自动电荷中和（专利）

高性能的浮动Ar离子枪实现了高速度低损伤的深度分析

PHI X-tool 触碰式全自动XPS分析仪.jpg

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