硅片厚度测量仪SIT-200
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硅片厚度测量仪SIT-200

硅片厚度测量仪SIT-200

参考价:¥5万 - 10万
型号: SIT-200
产地: 上海
品牌: Eachwave
评分:
核心参数
上海屹持光电技术有限公司
银牌会员6年生产商
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产品详情

硅片厚度测量仪SIT-200

硅片厚度测量仪(SIT-200)由精确可调激光光源,聚焦传感器,光学接收器组成。波长扫描光聚焦照射到目标上,由目标表面和背面反射光干涉形成干涉图案,经过聚焦传感器后由光学探测器进行检测。

 

产品特点:

l  全光学,非接触硅片厚度测试

l  高动态范围测量粗糙表面

l  湿法刻蚀过程中实时测量

高灵敏度         高精度           快速测量        远程控制


                          结构示意图

SIT-200                                 

产品参数:

测量目标

硅片

测量厚度

10-500μm

光源

1515-1585nm扫描

功率

0.6mwClass1

指示光源

红光,Class1M

测量时间

20ms

重复性

0.1μm

输出监控

干扰信号(电学)

PC接口

网口

供电

100-240V50/60Hz

尺寸

364 x 147 x 391mm

重量

9kg

 


硅片厚度测量仪SIT-200信息由上海屹持光电技术有限公司为您提供,如您想了解更多关于硅片厚度测量仪SIT-200报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应硅片厚度测量仪SIT-200外,上海屹持光电技术有限公司还可为您提供其他等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。

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