方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪(OCI)是基于光频域反射技术(OFDR),单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断,并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。
借助光纤环形器,高分辨率光学链路诊断仪(OCI)可以透射式测量大插损链路总体损耗,测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗,OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损(RL)的动态范围,动态范围高达60dB以上时,可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量,进一步扩展OFDR设备使用场景。
高分辨光学链路诊断仪OCI+精准测量多分支光链路损耗
OCT光谱成像+眼科+超长范围成像
气体探测解决方案TDLAS
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