型号: | HED-T5000 高性能 VF-TLP |
产地: | 日本 |
品牌: | HANWA汉瓦 |
评分: |
|
此设备用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力的测试,通过该测试可以清楚的了解到元器件的抗静电能力的特性参数,器件开发人员通过这些参数可以了解到元器件ESD设计窗口,从而对元器件保护电路作进一步改进;该设备也可通过给GATE端加DC电源,测试功率器件的SOA特性曲线。
1、此设备配备了最先进的测试模式
2、对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波,都可在示波器上确认到
3、此数据会自动保存,并在专用的显示软件上表示
4、专用显示软件可对入射波/反射波的合计值,snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘
5、被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理,比如,对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等,可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异,并且可以与半自动探针台连接,实现TLP测试的自动化
6、可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位,所以能够很大地提升测试效率
1、具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式
2、有助于验证HBM/CDM模式的测试
相关产品
Tektronix/Keithley 半导体参数分析仪 S530
MPI TS2000-SE探针台
iwatsu 半导体器件图示仪器CS3000/5000/10000系列
英铂信号测试系统/半导体测试机瞬态热阻测试仪
英铂功率分析仪YBHTOL-1000 功率器件工况老化测试平台
英铂功率分析仪GaN晶圆级动态功率测试系统
滨松HAMAMATSU其它无损设备EMMI微光显微镜 PHEMOS-X
聚能晶源Genettice微流控芯片GaN外延产品
OKMETIC微流控芯片SOI硅片/图案化硅片/单抛片/双抛片
爱德万ADVANTEST失效分析设备TS9001 TDR分析系统
MPI探针台MPI 全自动KGD测试系统MPI Die Prober Series
Farran毫米波太赫兹测试系统Cobalt Fx + TS150-THZ
Farran射频和微波测量系统Farran毫米波 波导测试系统
概伦电子primarius半导体器件测试仪器FS-Pro 半导体参数测试系统
Maury矢量接收机负载牵引系统
关注
拨打电话
留言咨询