HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪
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HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪

参考价：¥10万
型号： W5000M 晶圆级ESD测试仪
产地： 日本
品牌： HANWA汉瓦
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核心参数
英铂科学仪器（上海）有限公司
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产品详情

产品概要：

低成本高性能晶圆ESD测试仪，从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试 对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数，是满足日本、国际标准的高可靠性设备。(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格)

基本信息：

技术优势：

1.HBM波形在晶圆级实时捕获

2.符合J EDEC、ESDA和JEITA标准

3.提高效率，使用一个测试仪执行两个测试

4.Zap装置可以安装在探测站上

5.封装级性能可以从晶圆级测试结果推断出来

6.可选HMM zap测试(IEC 61000-4-2)

应用方向：


HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪信息由英铂科学仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪报价、型号、参数等信息， 欢迎来电或留言咨询。除供应HANWA半导体器件测试仪器W5000M 晶圆级ESD测试仪外，英铂科学仪器（上海）有限公司还可为您提供MPI高功率探针台TS2000-HP、MPI全自动探针台TS2500等产品， 公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。
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