产品详情

产品概要：

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。

基本信息：

• 独立的测试系统，便携式空间占用小，性价比高。

• 搭配嵌入式操作屏幕，无需外置PC或Curve tracer可独立完成HBM，MM和漏电测试

• 适应于功率半导体器件及少管脚IC

技术优势：

•易于使用的触摸屏界面,设置可以在没有PC的情况下进行调整

•符合多种标准,满足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA对HBM/MM的要求

•泄漏与曲线追踪

应用方向：

ESD静电放电测试。

HANWA半导体器件测试仪器HCE-5000 便携式ESD测试仪信息由英铂科学仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于HANWA半导体器件测试仪器HCE-5000 便携式ESD测试仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。除供应HANWA半导体器件测试仪器HCE-5000 便携式ESD测试仪外，英铂科学仪器（上海）有限公司还可为您提供MPI TS2000-SE探针台、MPI手动探针台TS150-THZ等产品，公司有专业的客户服务团队，是您值得信赖的合作伙伴。

售后服务

产品货期： 90天
培训服务：安装调试现场免费培训

型号：	HCE-5000 便携式ESD测试仪
产地：	日本
品牌：	HANWA汉瓦
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