MPI半导体晶圆测试配件EVS Probe Card探卡

MPI半导体晶圆测试配件EVS Probe Card探卡

参考价:¥500
供货周期: 两周
品牌: MPI
货号: 10
核心参数
英铂科学仪器(上海)有限公司
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产品详情

产品概要:

EVS探针卡是对传统bucklingbeam探针卡的增强。主要特点是更高的载流能力(C.C.C.)和更低的平衡接触力(BCF),以及整体的MEMS特性。

基本信息:

EVS可以轻松满足先进晶圆探测的要求,精确对准和良好的平面度控制是稳定接触电阻的关键因素,凭借其容量和性能,EVS 是高级探卡的理想选择。

技术优势:

1、类MEMS特性,具有平头和尖头两种,较小的针痕

2、对80um以上的pitch更理想

3、平面接触力比常规屈曲梁低50%

4、载流能力比常规屈曲梁高40%

5、更长的叶尖长度有助于延长使用寿命

6、与MPl内部基板兼容

应用方向:

主要应用于先进晶圆探测。

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