供货周期: | 两周 |
品牌: | MPI |
货号: | 20 |
MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试,用于显示驱动器、逻辑和存储设备。
MPI的悬臂式探头是对细间距、小焊盘尺寸、高速、清洁少、多DUT、高引脚数和超低泄漏要求的相应解决方案。
1、使用对角线或托架应用程序执行多个DUT配置,以实现超常规对齐和平面度
2、减少高温或低温试验期间的热变形
3、R+和U+结构的高速解决方案,用于严格的Pl和Sl应用
4、通过先进的探针材料和设计,稳定低接触电阻性能
5、交付周期短,是工程设备的理想选择
MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试,用于显示驱动器、逻辑和存储设备。
相关产品
MPI样品台Chuck System
MPI半导体晶圆测试配件DC+RF Probe Arms探针臂
MPI半导体晶圆测试配件MicroPositioners针座
MPI封装器件测试夹具
MPI晶圆测试配件TITAN™ 探针
MPI探头TITAN™多触点探头
MPI半导体晶圆测试软件MPI QAlibria®
MPI半导体晶圆测试射频电缆配件
MPI半导体晶圆测试配件AC 系列校准基片
MPI探针DC、各类开尔文探针
MPI半导体晶圆测试配件悬臂探针卡
MPI半导体晶圆测试配件FCB Prober Card探卡
MPI半导体晶圆测试配件EVS Probe Card探卡
射频探针T26A
Tektronix/Keithley 半导体参数分析仪 S530
关注
拨打电话
留言咨询