| 型号： | J200 LA-LIBS |
| 产地： | 美国 |
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J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统软件中的PCA工具是使用LIBS、质谱或两个光谱对各种样品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地质矿物等)进行分类或鉴别的理想方法，能瞬时监测所选元素的LIBS发射峰值强度，揭示不同样品深度处元素组成的变化。DepthTracker™对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能，可以轻松地估计集成强度和RSD值。同时，时间分辨ICP-MS信号也可以非常流畅，并且可以轻而易举地获得TRSD（时间相对标准偏差）统计学数值。
控制系统：
1、J200气体控制系统使用了两个高精度、数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送。
2、运输气体和补充气体流向样品室，ICP-MS系统按顺序自动运行，并被精确控制，带来理想的气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。
产品特点：
1、针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统，J200系统的独创性在于其模块化系统的设计；
2、自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性J200采用了一种自动调高传感器，该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化；
3、具有可互换镶嵌模块的Flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)；
4、紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应，双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门；
5、用于判别和分类分析的LIBS化学计量软件，多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像，维护成本低；
6、应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能。
J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS™允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值，通过将多个硬件指令组合在一起，并及时对它们进行排序，Axiom LA创建了一个存储“方案”。方案一经创建，之后就可以将它们调出，并将它们组合，以提供高度自动化的检测体验。我们只需“调出”整个方案以重复实验，或者复制方案的一部分，将其与新的指令结合起来，以解决新的采样方案。
J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统
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