方案摘要
方案下载| 应用领域 | 电子/电气 |
| 检测样本 | 电子元器件产品 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 辐照测试 |
在太空中，电子设备会受到辐射和重粒子的冲击而发生各种辐射效应，造成其工作的异常或故障，从国内外对航天事故的统计数据可以发现，40%的故障源于空间辐射。因此， 在使用器件时必须对其进行专门的抗辐照工艺处理，以确保其工作的可靠性。
在片辐照测试系统解决方案
在太空中，电子设备会受到辐射和重粒子的冲击而发生各种辐射效应，造成其工作的异常或故障，从国内外对航天事故的统计数据可以发现，40%的故障源于空间辐射。因此， 在使用器件时必须对其进行专门的抗辐照工艺处理，以确保其工作的可靠性。
采用X射线作为辐射源开展辐照总剂量效应试验，不仅易于实施，节省资金，在器件封装前即可对器件的抗辐射水平给出评估，是一种可行的评估器件总剂量水平的手段。X 射线辐射源系统可以用于（1）MOS结构器件的基本辐射响应分析（2）用过实验结果跟踪给定工艺的加固情况（3）迅速提高批量生产的芯片的加固情况反馈。
目前，总剂量辐照测试方面，主要应用60Coγ射线（钴源）进行测试，在广泛的研发和设计中心，Co辐射源属于危险品，很难申请和保管及运营。
相对60Co γ射线辐射源，X射线等效钴源，可以通过对比测试，快速的确定设计的好坏，易于管理和维护。X射线辐射源系统体积小，占地面积小，适合于实验室与工厂的生产线上使用，而且操作简单，调节方便，通过面板进行参数设置与操作，可精确控制辐射剂量率，且可调辐射剂量率范围较大，安全性好，仪器周边的辐射量与普通环境无差别， 更容易校准。
文献贡献者
半导体一体化晶圆级/封装级可靠性测试系统
GBITEST-DC 直流光电器件测试系统集成解决方案
射频微波前端芯片全自动在片测试和封测解决方案
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