方案摘要
方案下载| 应用领域 | 半导体 |
| 检测样本 | 集成电路 |
| 检测项目 | |
| 参考标准 | 射频芯片测试，射频芯片在片测试，射频芯片封装测试 |
易捷测试推出了针对于功放芯片以及滤波器模组和收发系统模块的易测软件测试系统，专注于射频微波测试，适用于研发设计，WAT方案，为微电子器件提供在片测试和封装器件测试的系统整合方案，解决了现有全自动机台厂家不提供灵活多样的射频测试方案的问题，完成对可编程控制仪器的控制和数据收集，自定义测试参数，辅助控制在片prober，实现测试配置方案编辑和测试过程分离，集成清晰易用的测试操作流程，定制输出数据报表的格式，兼容不同客户的MES系统接口，实现交钥匙的完成系统解决方案。
随着5G和物联网的发展给射频器件一个大的想像空间，各大公司都在大量的投入研发。
产能的提升，带来测试效率的要求，过往的以工程机台为主的微波射频测试方案，需要切换到以生产型机台为中心的高速测试。
兼顾测试成本，对于中小批量的测试，如果选择传统的探卡测试，测试设置的灵活性弱，射频探卡的成本高，成为制约降低测试效率和成本的因素。
传统的基于台式的网分仪，信号源和频谱仪，占地大，密度低，价格高。
易捷测试推出了针对于功放芯片以及滤波器模组和收发系统模块的易测软件测试系统，专注于射频微波测试，适用于研发设计，WAT方案，为微电子器件提供在片测试和封装器件测试的系统整合方案，解决了现有全自动机台厂家不提供灵活多样的射频测试方案的问题，完成对可编程控制仪器的控制和数据收集，自定义测试参数，辅助控制在片prober，实现测试配置方案编辑和测试过程分离，集成清晰易用的测试操作流程，定制输出数据报表的格式，兼容不同客户的MES系统接口，实现交钥匙的完成系统解决方案。
易捷测试提供：
射频在片和封装器件封测工艺一条龙整合 | 全自动晶圆在片射频测试系统 |
文献贡献者
半导体一体化晶圆级/封装级可靠性测试系统
GBITEST-DC 直流光电器件测试系统集成解决方案
探针台MPI与4200A-SCS 参数分析仪进行CV测试前校准
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