方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 信息技术类设备 |
检测项目 | |
参考标准 | JJG 746-2024 |
JJG 746-2024
超声检测工艺要点
1、超声标准的特点:不同种类工件对应不同的检测标准。
2、对接焊缝、管座角焊缝(检测技术等级:A级、B级、C级)
(1)平板(包括管外径≥159mm)对接焊缝:
主页内容(B/C级检测要求)+ 附录N (表N.1 图N.1)
图N.1
(1)A/B—斜探头母材侧纵向缺陷扫查
(2)W/Z(X/Y)--斜探头母材侧横向缺 陷扫查(B级检测)
(3)C/D--斜探头磨平焊缝表面横向缺陷扫查
(C级检测)
(4)G—直探头磨平焊缝上的纵向缺陷扫查
(C级检测)
(5)直射波(半波)0.75P=1.5KT
一次反射波(全波)1.25P=2.5KT
表N.1 平板对接接头B/C级检测的具体要求
检测 技术 等级 | 工件厚度 t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | ||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | |||||
不同折射 角(K 值) 探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动 区宽度 | 探头位置 | 不同折射角 (K 值)探头 数量 | 检测面 | ||
B | 6≤t≤40 | 1 | 单面双侧 | 1.25P | — | 1 | 单面 |
40<t≤100 | 1 或 | 双面双侧 | 1.25P | — | 1 | 单面 | |
2 | 单面双侧或双面单侧 | ||||||
100<t≤200 | 2 | 双面双侧 | 0.75P | — | 2 | 单面 |
C | 6≤t≤15 | 1 或 | 单面双侧 | 1.25P | — | 1 | 单面 |
2 | 单面单侧或双面单侧 | ||||||
15<t≤40 | 2 | 双面双侧 | 1.25P | — | 2 | 单面 | |
40<t≤100 | 2 | 双面双侧 | 1.25P | 单面(G 或 H) | 2 | 单面 | |
100<t≤500 | 2 | 双面双侧 | 0.75P | 单面(G或H) | 2 | 单面 | |
注:(1)焊缝余高磨平,增加焊缝磨平表面直探头检测(厚度>40mm) (2)增加母材检测:斜探头经过的区域用直探头采用B2-100%灵敏度扫查。 (3)2个K值探头(常用K1/K2,折射角相差100) |
(2)插入式管座角焊缝: 附录N(表N.3 图N.3)
图N.3
(1)A/B指筒体侧母材表面的斜探头纵向缺陷扫查。
(2)C指插入式接管内侧表面的直探头纵向缺陷扫查
(3)X、Y、W、Z指指筒体侧母材表面的斜探头横向缺陷扫查,只需要做单面。
(4)D/E指插入式接管内侧表面的斜探头纵向缺陷扫查, d/e指插入式接管内侧表面斜探头扫查的路径
注:(4)有的工艺题不要求做管内侧斜探头检测
表N.3 插入式接管角接接头超声B级检测的具体要求
检测 技术 等级 | 工件厚度 t/mm | 纵向缺陷检测 | 横向缺陷检测 | |||||
斜探头检测 | 直探头检测 | 斜探头横向扫查 | ||||||
不同折射 角(K 值) 探头数量 | 检测面(侧) | 探头移动 区宽度 | 探头 位置 | 探头移动区宽度 | 不同折射 角(K 值)探头数量 | 检测面 | ||
B | 6≤t≤15 | 1 | (A 或 B)或 (D 和 E) | 1.25P d | C | c | 1 | (X 和 Y)或 (W 和 Z) |
15<t≤40 | 1 | (A 或 B)和 (D 和 E) | 1.25P d+e | C | c | 1 | (X 和 Y)或 (W 和 Z) | |
40<t≤100 | 2 | (A 和 B)和 | 1.25P | C | c | 2 | (X 和 Y)和 (W 和 Z) | |
1 | (D 和 E) | d+e | ||||||
100<t≤200 | 2 | (A 和 B)和 | 0.75P | C | c | 2 | (X 和 Y)和 (W 和 Z) | |
1 | (D 和 E) | d+e |
(3)探头K值选择(涉及到探头移动范围和检测声程。)表25/26
表25、26 斜探头和直探头推荐值
斜探头折射角(K值)和标称频率 | 直探头标称频率 | |||
工件厚度 t/mm | 折射角(K 值) | 工件厚度 t/mm | 工件厚度 t/mm | 标称频率MHZ |
≥6~40 | 4~5 | |||
≥6~25 | 63°~72°(2.0~3.0) | 4~5 | ||
>25~40 | 56°~68°(1.5~2.5) | 2~5 | >40 | 2~5 |
>40 | 45°~63°(1.0~2.0) | 2~2.5 |
注:通常用K2探头(如两种K值,增加K1探头),
管子焊缝厚度不大时可选K2.5或K3探头
(4)标准试块:CSK-IA 对比试块:CSK-IIA 表-23/27
表23、27 斜探头或直探头检测距离-波幅曲线的灵敏度
试块型式 | 工件厚度 t/mm | Φ2.0孔的位置 | 评定线 | 定量线 | 判废线 |
CSK-IIA -1/2/3 | ≥6~40 | 5、15、25、35 | Φ2×40-18dB | Φ2×40-12dB | Φ2×40-4dB |
>40~100 | 10、30、50、70、90 | Φ2×60-14dB | Φ2×60-8dB | Φ2×60+2dB | |
>100~200 | 10、30、50、70、 90、110、140、170、200 | Φ2×60-10dB | Φ2×60-4dB | Φ2×60+6dB |
(5)其他工艺参数
检测区:焊缝宽度
3、锻件
(1)饼形锻件:主页内容(直探头检测)厚度超过400mm需要双面检测
(2)筒型锻件和环向锻件:主页内容(直探头检测)+附录E(增加斜探头检测)
(3)直探头检测(2.5P20Z):外圆面和端面相互垂直方向检测
基准灵敏度:大平底调节,用相应公式换算 PB / Pφ = 2λX /πφ2
用表9 CS-2试块φ2平底孔制作距离-波高曲线,在用相应公式换算PΦ1/ PΦ2=X1/X2
扫查灵敏度:基准灵敏度+6dB
(4)斜探头检测:附录E K1斜探头(外圆面周向和纵向倾斜方向检测)
采用600V型槽试块
600V型槽试块距离-波幅曲线
4、钢板:主页内容(直探头检测),
(1)单晶直探头(>20mm)或双晶直探头(6~60mm)见表3
板厚/mm | 采用探头 | 标称频率/MHz | 探头晶片尺寸(推荐)/mm |
6~20 | 双晶直探头 | 4~5 | 圆形晶片直径Φ10~30 方形晶片边长10~30 |
>20~60 | 双晶直探头或单晶直探头 | 2~5 | |
>60 | 单晶直探头 | 2~5 |
试块:双晶直探头采用阶梯平底试块(或钢板底面);
单晶直探头采用Φ5mm平底孔试块
基准灵敏度:厚度≤20mm B1-50%+10dB
厚度>20mm 用表4 φ5平底孔制作距离-波高曲线,
查灵敏度:基准灵敏度+6dB
(2)斜探头检测(合同有要求时)---附录D(K1斜探头检测)
采用600V型槽试块。
600V型槽试块距离波幅曲线
标准物质管理办法
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