方案摘要
方案下载应用领域 | 半导体 |
检测样本 | 光电器件 |
检测项目 | |
参考标准 | GB/T2423.3-2016 |
恒温恒湿试验箱可将半导体光电器件进行低温、高温、试验时间、程序1次性设定, 由设备自行走程序运行,除了半导体外,同时还是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备,用于测试和确定半导体电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
恒温恒湿试验箱检测半导体光电器件的耐寒耐热性能
实验目的:
恒温恒湿试验箱可将半导体光电器件进行低温、高温、试验时间、程序1次性设定, 由设备自行走程序运行,除了半导体外,同时还是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备,用于测试和确定半导体电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
实验室使用的仪器设备和耗材试剂:
一台225L的恒温恒湿试验箱,设置温湿度条件为85℃85%R.H,连续测试72个小时。在设备运行前,请仔细检查电路系统是否打开,水源是否充足,一桶纯净水等待做湿度测试时候要用到,然后悬挂好恒温恒湿测试专用的测试纱布与湿度传感器,轻轻套好即可。
在整个测试过程中,三天后,设备有条不紊地运行着,正常工作。在双85测试条件下持续测试半导体光电器件3天后,试样完好无损,依然能在通电负载的情况下,还能继续正常工作。
试验结果表面,该批光电器件完全符合市场需求,满足消费者的使用要求。可按照此批半导体光电器件目前的工艺生产。
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