GB/T 12085.8-2022 光学和光子学 环境试验方法 第8部分:高内压、低内压、浸没

2023-09-01 10:45  下载量:25

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1 范围 本文件描述了光学和光子学高内压、低内压、浸没的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的高内压、低内压、浸没试验。 4试验条件 光学和光子学仪器的耐压试验采用下述三种方法: ——条件试验方法80:高内压; ——条件试验方法81:低内压; —条件试验方法82:浸没。 条件试验方法80的环境条件为清洁的干燥空气或氮气,相对湿度小于30%。 条件试验方法82用于在使用期间可能遭到浸没的仪器。浸没试验应使用软水并在敞开的水箱里或水压室中进行,浸没的深度根据试样的最高部位决定,水温应在10℃~25 ℃之间,暴露期间试样的温度不应低于水温,但也不应超过水温10 K。

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