包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪

参考价:¥999
型号: CHY-02泉科瑞达
产地: 山东
品牌: 泉科瑞达
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山东泉科瑞达仪器设备有限公司
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产品详情

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪

仪器名称:CHY-02测厚仪

制造商:山东泉科瑞达仪器设备有限公司

仪器品牌:泉科瑞达

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪是一种高精度的测量设备,主要用于测量塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度。以下是对接触式包装薄膜厚度测量仪的详细介绍:

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪产品特征

  1. 高精度测量:采用机械接触式测量原理,通过精密的位移传感器测量薄膜材料的厚度。

  2. 自动升降测头:在测试过程中,测量头自动升降,减少人为因素造成的误差。

  3. 操作简便:配备大液晶屏显示,操作界面直观,支持手动和自动两种测量模式。

  4. 数据管理:实时显示测量结果,包括最大值、最小值、平均值和标准偏差,方便数据分析。

  5. 系统标定:配置标准量块用于系统标定,确保测试精度和数据一致性。

  6. 打印功能:系统支持数据实时显示、自动统计和打印,方便获取测试结果。

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪技术参数

  • 测试范围:0~2mm(标配),可选配0~6mm或0~12mm的测量范围。

  • 分辨率:0.1μm,确保极高的测量精度。

  • 测量压力:17.5±1 kPa(薄膜),50±1 kPa(纸张),适应不同材料的测量需求。

  • 接触面积:50mm²(薄膜),200mm²(纸张),可根据测试材料选择。

  • 电源:AC 220V 50Hz,符合多数实验室的电源要求。

  • 外形尺寸:设备体积适中,便于实验室内安置。

  • 净重:大约26kg,便于移动和携带。

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执行标准

该仪器符合多项国家和国际标准,如GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等。

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪应用领域

广泛应用于塑料薄膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度测量,适用于包装材料生产过程中的质量控制、研发与技术创新等领域。

仪器配置

标准配置通常包括主机、微型打印机、标准量块等。可选配件包括专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码等。


包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪信息由山东泉科瑞达仪器设备有限公司为您提供,如您想了解更多关于包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪报价、型号、参数等信息, 欢迎来电或留言咨询。除供应包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪外,山东泉科瑞达仪器设备有限公司还可为您提供其他等产品, 公司有专业的客户服务团队,是您值得信赖的合作伙伴。
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  • 产品货期: 30天
  • 培训服务: 额外提供免费培训

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