方案摘要
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参考标准 | 纳米颗粒 spICP-MS) |
近些年来,纳米颗粒材料被越来越广泛的应用于衣食住行等各领域内,由此带来的潜在的纳米颗粒污染问题,逐渐引起了人们的重视。单颗粒电感耦合等离子体质谱(spICP-MS)技术是近年来发展起来的可用于进行纳米颗粒表征的方法。使用此方法,可实现一次进样同时完成颗粒粒径、数量浓度、元素含量及粒径分布的分 析。
随着技术的不断发展,spICP-MS技术,包括硬件以及软件都得到 了不断的完善。但目前使用常规单四级杆spICP-MS对样品中的纳 米颗粒进行检测时,仍面临许多的挑战。其中,最主要的问题包 括:1. 在样品检测过程中,由于进样系统的设计,使得样品的传输 效率较低,通常情况下为总进样量的1%-3%,因此会导致样品消 耗量大,同时在纳米颗粒检测时需要延长采集时间才能够获得足够 的信号数量来进行数据统计,从而造成样品浪费及检测效率低的问 题。2. 使用传统单四级杆spICP-MS检测质谱干扰较强元素的纳米 颗粒时,由于干扰的原因,会出现纳米颗粒信号无法与背景信号区 分的情况。在实际检测过程中,纳米颗粒样品量通常较小,因此, 在检测过程中,应尽量减少样品消耗。同时,用户对于大量存在的 硅、铁等天然或人工合成的纳米颗粒的检测需求较高,所以,为了 克服上述问题,高效进样系统与三重四级杆spICP-MS的组合成为 必然的选择。 TQ ICP-MS是真正意义上的三重四级杆ICP-MS,采用双四级杆质 量选择器(Q1和Q3)以及四级杆碰撞反应池(Q2)的设计,可以 完美实现上述提到的如硅元素等具有挑战性的元素的准确分析定 量。而全新设计的单颗粒分析专用高效进样系统,则可以在实现微 流(10微升/分钟)进样的同时,完成液体样品的百分之百进样,节约 样品。本研究对此方法进行了初步的摸索。
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