赛默飞世尔科技扫描电镜和双束电镜资深产品专家,有超过十八年电镜应用经验，为聚焦离子束双束电镜，超高分辨率扫描电镜和环境真空扫描电镜提供技术支持，擅长低电压扫描电镜技术对介孔分子筛的表征以及运用双束电镜对锂电池正负极及隔膜材料的三维表征，镀膜包覆，界面和传质分析，在加入赛默飞公司之前在中国科学院上海硅酸盐研究所分析测试中心工作了10年，为SEM，FIB，EPMA，EBSD，EDS，WDS，CL提供技术支持，期间发表电镜应用相关专业文章20余篇，撰写《低电压扫描电镜应用技术研究》和《扫描电镜和电子探针的基础》专著2篇，参与3项电镜、电子探针以及能谱仪相关国家标准制定。